| Область научных интересов |
Научная работа
Оборудование:
- Сверхвысоковакуумный комплекс Omicron Nanotechnology Multiprobe RM со спектрометрическим, микроскопическим оборудованием, эпитаксиальной камерой
- Сканирующий зондовый микроскоп NT-MDT Solver Pro;
Спектроскопия и микроскопия:
- Электронная оже-спектроскопия;
- Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия;
- Растровая электронная микроскопия;
- Сканирующая оже-микроскопия;
- Послойное ионное профилирование;
- Просвечивающая электронная микроскопия;
- Рентгеновская энергодисперсионная спектроскопия;
- Сканирующая зондовая микроскопия
Наноразмерные системы и их создание:
- Молекулярно-лучевая эпитаксия;
- Импульсное лазерное осаждение;
- Газофазная эпитаксия;
- Полупроводниковые гетеронаноструктуры с квантовыми ямами, квантовыми точками;
- Ионно-синтезированные нанокластеры в диэлектрических матрицах;
- High-k-диэлектрики;
- Наноструктурированные металлы;
- Структуры спинтроники
Метрология, стандартизация, сертификация
- Метрологическое обеспечение аналитических методов;
- Метрология в области нанодиагностики;
- Калибровка и поверка микроскопов
Знания и навыки
- Свободный уровень владения разговорным и письменным английским;
- Программирование в среде Borland Delphi, Visual С++, Wolfram Matematica и Mathsoft MathCad;
- Знания в области метрологии, стандартизации, сертификации, управления системами - качества. Опыт аккредитации лабораторий и научных центров;
- Опыт руководства научными проектами;
- Опыт аналитической работы;
- Опыт проведения презентаций результатов и достижений.
Сертификаты
1. Сертификат об обучении по программе "Управление инновационными процессами в научно-технической сфере" (г. Н. Новгород, ННГУ, 2004 г.)
2. Сертификат об повышении квалификации по курсу "Химический анализ твердых тел методами электронной спектроскопии" (г. Москва, МИФИ, 2006 г.);
3. Сертификат о стажировке по программе"X-ray photoelectron spectroscopy of solid state surface structures growing by molecular beam epitaxy" (Германия, г. Таунуштайн, Omicron Nanotechnology GmbH, 2007 г.);
4. Сертификаты об обучении по программам 2 и 3 Школы "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии" (г. Черноголовка, ИПТМ РАН, 2009-2010 гг.);
5. Сертификат о прохождении обучения работе на просвечивающем электронном микроскопе JEOL JEM-2100F (г. Н. Новгород, ННГУ, 2010 г.);
6. Сертификат о прохождении курсов повышения квалификации "NanostructuresgrowthandtheirstudybyXPSwithdepthprofilingusingUHVsystemsOmicronMultiprobeRMandOmicronESCA+" (Испания, г. Сарагоса, Институт углеродной химии, 2011 г.);
7. Сертификат о прохождении курсов повышения квалификации "Средства геометрических измерений" (Н.Новгород, Академия стандартизации и метрологии, 2012 г.).
Именные стипендии и гранты
1. Грант ФЦП "Научные и научно-педагогические кадры инновационной России" "Развитие методв электронной спектроскопии и микроскопии для исследования структур спинтроники" (2012 ‑ 2013 гг.).
2. Стипендии ученого совета физического факультета и ННГУ (2003 ‑ 2006);
3. Стипендии имени академика Г.А. Разуваева (2004 ‑ 2005);
4. Стипендия Президента РФ (2004);
5. Стипендия правительства РФ (2003);
6. Грант Минобразования РФ "Самоорганизованные наноостровки GeSi/Si: морфология, состав и энергетический спектр" (2003 г.);
7. Грант Минобразования РФ "Исследование локального элементного состава самоорганизованных нанокластеров GeSi/Si методом растровой Оже-микроскопии" (2002 г.);
Участие в качестве соисполнителя в 17 научных проектах
|
