Зондовая силовая микроскопия становится все более популярной методикой изучения поверхности конденсированных сред и стандартным средством контроля растущих кристаллов и пленок, входящим в оснащение технологических установок. Возможности по регистрации различных характеристик объектов непрерывно расширяются благодаря новым вариантам метода. Важная роль среди последних принадлежит "электрической" силовой микроскопии, различные способы реализации которой рассмотрены в настоящей статье как в методическом плане, так и в плане сферы ее применения и конкретных результатов, получаемых с ее помощью.
КРИСТАЛЛОГРАФИЯ, 2004, том 49, №3, с. 541-565
|
|
Зассмотрены применение поверхностных электромагнитных волн оптического диапазона, или поверхностных полёритонов, длё высокоточных измерений в металлооптике и микроскопии сверхвысокого разрешениё, а также физические процессы, в которых они играют определёющую роль.
М.Н. Либенсон Поверхностные электромагнитные волны в оптике // Соросовский образовательный журнал, №11, 1996, с.103-110
|
|
Учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений
Издательство: ИФМ РАН, Нижний Новгород, 2004
|
|
|
Руководство пользователя сканирующего зондового микроскопа Nanoeducator
|
|
|
Описание лабораторных работ, выполняемых студентами физического факультета по сканирующей зондовой микросокпии
|
|
|
Описание лабораторной работы
|
|
|
Описание лабораторной работы
|
|
|
Описание лабораторной работы
|
|